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SZ-100 系列纳米颗粒分析仪 - 中文样本
来源:HORIBA科学仪器事业部 相关产品:HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 资料
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HORIBA SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪
来源:HORIBA科学仪器事业部(Jobin Yvon光谱技术)堀场 资料
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SZ-100产品样本(中文)
来源:HORIBA科学仪器事业部(Jobin Yvon光谱技术)堀场 资料
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SZ-100产品样本(英文)
来源:HORIBA科学仪器事业部(Jobin Yvon光谱技术)堀场 资料
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HORIBA公司颗粒表征产品线
来源:HORIBA科学仪器事业部(Jobin Yvon光谱技术)堀场 资料
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HORIBA 激光粒径分布分析仪Partica LA-960
LA-960秉承HORIBA一直以来用独创设计主导产业的优秀传统,是LA系列新的突破性演变,通过直观的软件、独特的配件和高效的性能,将科学认知推向未来。
来源:HORIBA科学仪器事业部 相关产品:HORIBA LA960激光粒度仪 资料
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APS-100超声法粒度仪在ZnO纳米颗粒和ZnO-EG纳米流体方面的应用
来源:上海胤煌科技有限公司 相关产品:美国MAS纳米粒度及Zeta电位分析仪 应用
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通过荧光各向异性来检测硅纳米颗粒
来源:HORIBA科学仪器事业部 相关产品:FluoroCube / UltraFast荧光寿命测试系统 应用
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二氧化硅纳米颗粒与碳黑纳米颗粒红外漫反射光谱的测量与分析
100 ∶20 。在这个比例以内, 碳黑纳米颗粒的特征峰位的F ( R) 函数与浓度符合朗伯- 比尔定律。当碳黑纳米颗粒在体系中的含量超过这个比值, 随着碳黑在体系中比例的增加, 吸光度将不再增大。
来源:L120623 资料
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HORIBA EMGA-921氢分析仪样本
HORIBA EMGA-921氢分析仪样本HORIBA EMGA 氢分析仪
来源:HORIBA科学仪器事业部(Jobin Yvon光谱技术)堀场 资料
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